可测试性设计

【词语拼音】kě cè shì xìng shè jì

【词语繁体】可測試性設計

【词语结构】式词语

【词语字数】六字词语

【网络解释】
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。